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MC012系列粗糙度轮廓仪(CX-1(S))

MC012系列粗糙度轮廓仪

MC012系列(CX1(S)

一、CX1(S)粗糙度轮廓仪产品简介:

    CX1(S)粗糙度轮廓仪是一款高精度的大型综合测量仪器,包括粗糙度测量系统、直接轮廓测量系统和形状测量系统。它可以测量和评估粗糙度和直接轮廓参数,还可以测量角度、圆弧半径、相互位置等形状参数。采用先进的一体化传感器,并全面更新优化了操作软件,使仪器测量更精确,重复性更稳定,使用更方便。更有大规格测量仪器供新老用户选择。

二、CX1(S)粗糙度轮廓仪技术参数:

A\粗糙度测量

1、评定参数:Ra.Ry.Rz.S.Sm.tp

2、测量范围:Ra 0.01μm-10μm

3、触针位移:±500μm

4、分 辨 率:0.001μm

5、示值误差:≤3%±5nm

B\轮廓测量 

1、使用范围:x0-100mm, z 0-300mm 

2、测量范围:x0-100mm, z =±3mm(可选配Z=±6mmZ=±15mm 

3、分 辨 率:0.001mm,0.1mm

4、半径误差:1%-0.2%

5、外形尺寸:170×52×132(mm)含电脑桌

6、净    重:约80Kg


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